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日本ae-mic用于超高精度電阻器檢查AE-163D 適用于 B，C，D，F(xiàn)，G，J，K類(lèi)，切屑，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀和編帶機(jī)

日本ae-mic高精度數(shù)字電阻檢查器AE-162L D，F(xiàn)，G，J，K類(lèi)，兼容超小型芯片（0201、03015），包帶機(jī)

日本ae-mic用于超高速芯片電阻檢測(cè)AE-162D D，F(xiàn)，G，J，K類(lèi)，切屑，熔體，徑向和軸向電阻器的分揀機(jī)和編帶機(jī)的理想選擇

日本清新betterseishin激光微米粒度儀LMS-3000 新的激光粒度分析儀/激光微米分級(jí)儀LMS-3000可與干型和濕型兼容，其緊湊的尺寸可提供出色的性能。它易于使用，任何人都可以安全地測(cè)量從納米到毫米的各種粒徑。

日本sinko-denki手動(dòng)針孔檢查機(jī)KS1-1 / 2 由于該機(jī)器使用高電壓，如果它是大約幾十微米的薄膜，會(huì)引起絕緣故障，從而可用于針孔檢查。