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HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀

發(fā)布時間:2025-02-20 點擊量:38

HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀

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HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀,專為需要測量精度的應用場景設計。通過保持測量頭向下恒定,消除了人為操作帶來的測量誤差,確保測量結果的穩(wěn)定性和可靠性。該設備適用于超薄膜材料的測量,操作舒適且測量精度高。


核心特點

  1. 高精度測量

    • 測量分辨率:0.01μm

    • 測量范圍:0~500μm

    • 精度高,適合超薄膜材料的精確測量。

  2. 恒定測量壓力

    • 測量壓力:0.14N

    • 通過恒定壓力設計,確保測量頭與樣品接觸時壓力一致,避免因壓力變化導致的測量誤差。

  3. 特殊測量元件

    • 測量元件:R30碳化物球形表面

    • 碳化物材料具有高硬度和耐磨性,適合長時間使用,球形表面設計確保與樣品接觸時的穩(wěn)定性和精度。

  4. 消除人為誤差

    • 通過保持測量頭向下恒定,減少人為操作對測量結果的影響,確保測量的一致性和可靠性。

  5. 操作舒適

    • 設計符合人體工程學,操作簡單,適合長時間使用。


技術參數(shù)

參數(shù)詳情
測量分辨率0.01μm
測量范圍0~500μm
測量元件R30碳化物球形表面
測量壓力0.14N
適用材料超薄膜、金屬、塑料、玻璃等
測量方式接觸式測量
顯示方式數(shù)字顯示
數(shù)據(jù)輸出支持數(shù)據(jù)導出(可選)

應用領域

  1. 半導體行業(yè)

    • 用于測量晶圓、光刻膠等超薄膜材料。

  2. 光學薄膜

    • 適用于鏡頭、濾光片等光學元件的薄膜厚度測量。

  3. 電子行業(yè)

    • 用于顯示屏、觸摸屏等薄膜材料的厚度檢測。

  4. 材料研究

    • 適用于新材料研發(fā)中的超薄膜厚度測量。


使用注意事項

  1. 校準

    • 定期校準設備,確保測量精度。

  2. 環(huán)境控制

    • 避免在振動或溫度波動較大的環(huán)境中使用,以免影響測量結果。

  3. 樣品準備

    • 確保樣品表面清潔、平整,避免雜質影響測量。

  4. 測量頭維護

    • 定期檢查測量頭(R30碳化物球形表面)的磨損情況,必要時更換。


產(chǎn)品優(yōu)勢

  • 高精度:0.01μm的分辨率,滿足超薄膜測量需求。

  • 穩(wěn)定性:恒定測量壓力和向下恒定設計,消除人為誤差。

  • 耐用性:R30碳化物測量元件,耐磨且壽命長。

  • 易用性:操作簡單,適合多種材料和場景。


總結

HKT-MASTER 0.01AA 是一款高性能的超薄膜測厚儀,適用于需要高精度和穩(wěn)定性的測量場景。其設計和高質量的材料使其在半導體、光學、電子和材料研究等領域具有廣泛的應用價值。