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HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀
HKT-MASTER 0.01AA 是一款高精度超薄膜測厚儀,專為需要高測量精度的應用場景設計。通過保持測量頭向下恒定,消除了人為操作帶來的測量誤差,確保測量結果的穩(wěn)定性和可靠性。該設備適用于超薄膜材料的測量,操作舒適且測量精度高。
高精度測量
測量分辨率:0.01μm
測量范圍:0~500μm
精度高,適合超薄膜材料的精確測量。
恒定測量壓力
測量壓力:0.14N
通過恒定壓力設計,確保測量頭與樣品接觸時壓力一致,避免因壓力變化導致的測量誤差。
特殊測量元件
測量元件:R30碳化物球形表面
碳化物材料具有高硬度和耐磨性,適合長時間使用,球形表面設計確保與樣品接觸時的穩(wěn)定性和精度。
消除人為誤差
通過保持測量頭向下恒定,減少人為操作對測量結果的影響,確保測量的一致性和可靠性。
操作舒適
設計符合人體工程學,操作簡單,適合長時間使用。
參數(shù) | 詳情 |
---|---|
測量分辨率 | 0.01μm |
測量范圍 | 0~500μm |
測量元件 | R30碳化物球形表面 |
測量壓力 | 0.14N |
適用材料 | 超薄膜、金屬、塑料、玻璃等 |
測量方式 | 接觸式測量 |
顯示方式 | 數(shù)字顯示 |
數(shù)據(jù)輸出 | 支持數(shù)據(jù)導出(可選) |
半導體行業(yè)
用于測量晶圓、光刻膠等超薄膜材料。
光學薄膜
適用于鏡頭、濾光片等光學元件的薄膜厚度測量。
電子行業(yè)
用于顯示屏、觸摸屏等薄膜材料的厚度檢測。
材料研究
適用于新材料研發(fā)中的超薄膜厚度測量。
校準
定期校準設備,確保測量精度。
環(huán)境控制
避免在振動或溫度波動較大的環(huán)境中使用,以免影響測量結果。
樣品準備
確保樣品表面清潔、平整,避免雜質影響測量。
測量頭維護
定期檢查測量頭(R30碳化物球形表面)的磨損情況,必要時更換。
高精度:0.01μm的分辨率,滿足超薄膜測量需求。
穩(wěn)定性:恒定測量壓力和向下恒定設計,消除人為誤差。
耐用性:R30碳化物測量元件,耐磨且壽命長。
易用性:操作簡單,適合多種材料和場景。
HKT-MASTER 0.01AA 是一款高性能的超薄膜測厚儀,適用于需要高精度和穩(wěn)定性的測量場景。其設計和高質量的材料使其在半導體、光學、電子和材料研究等領域具有廣泛的應用價值。